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El KL-300 Laboratorio de lógica digital es un sistema comprensivo y completo apropiado para cualquiera dedicado a experimentos de lógica digital. Todos los equipos necesarios para los experimentos de lógica digital tales como suministros de poder, generador de señal, interruptores y despliegues están instalados en la unidad principal. Los 13 módulos cubren una amplia variedad de tópicos esenciales en el campo de la lógica digital. Este es un sistema de bajo costo y tiempo para estudiantes e investigadores interesados en el desarrollo y pruebas de circuitos prototipos.
Conveniente para lógica combinatoria, lógica secuencial, diseño y experimentos de circuitos con microprocesadores.
Herramienta ideal para el aprendizaje de los conceptos básicos de los circuitos de lógica digital.
Fuente de poder, fuente de señal y dispositivos de medición comprensivos para un conveniente experimento.
Con protoboards universales incrementa considerablemente la expandibilidad y flexibilidad de los experimentos.
Capaz de procesar circuitos TTL, CMOS, NMOS, PMOS y ELC
Todas las unidades de suministro están equipados con protección contra sobrecargas para una mayor seguridad.
Todos los módulos están equipados con interruptores DIP de 8 bits para la simulación de fallas.
Estuche de almacenaje individual para todos los módulos para el fácil transporte y almacenamiento.
LISTA DE EXPERIMENTOS
1. Experimentos de compuertas lógicas básicas
1-1 Introducción a la lógica y los interruptores
1-2 Experimentos de circuitos de compuertas lógicas
- a. Circuito de lógica del diodo (DL)
- b. Circuito de lógica resistor-transistor (RTL)
- c. Circuito de lógica diodo-transistor (DTL)
- d. Circuito de lógica transistor-transistor (TTL)
- e. Circuito de lógica CMOS
1-3 Experimentos de medición de la tensión umbral
- a. Circuito de lógica TTL
- b. Circuito de lógica CMOS
1-4 Experimentos de medición de tensión/corriente
- a. Medición de la tensión E/S, corriente de salida TTL...
- b. Medición de la tensión E/S, corriente de salida CMOS.
1-5 Medición del tiempo de propagación en compuertas lógicas básicas
- a. Medición del tiempo de propagación en compuertas lógicas TTL
- b. Medición del tiempo de propagación en CMOS...
1-6 Medición de las características de las compuertas lógicas básicas
- a. Medición de las características de la compuerta AND
- b. Medición de las características de la compuerta OR
- c. Medición de las características de la compuerta inversor
- d. Medición de las características de la compuerta NAND
- e. Medición de las características de la compuerta NOR
- f . Medición de las características de la compuerta XOR
1-7 Interfaz entre compuertas lógicas
- a. Interfaz TTL a CMOS
- b. Interfaz CMOS a TTL
2. Experimentos de circuitos lógicos ensamblados
2-1 Experimento de circuito de compuerta NOR
2-2 Experimento de circuito de compuerta NAND
2-3 Experimentos de circuito de compuerta XOR
- a. Con compuerta NAND
- b. Con ecuaciones básicas
2-4 Experimento de circuito de compuerta A-O-I
2-5 Experimentos de circuito comparador
- a. Con compuerta lógica básica
- b. Con un CI comparador TTL
2-6 Experimento de circuito de compuerta de Schmitt
2-7 Experimento de circuito de compuerta de colector abierto
- a. Circuito manejador de alta tensión/corriente
- b. Construyendo una compuerta AND con compuertas con tercer estado
2-8 Experimentos de circuitos de compuerta con tercer estado
- a. Experimento de medición de la tabla de verdad
- b. Construyendo una compuerta AND con compuertas con tercer estado
- c. Circuito de transmisión bidireccional
2-9 Experimentos de sumadores completos y semisumadores
- a. Con compuertas lógicas básicas
- b. Circuito sumador completo
- c. Generador de acarreo para un sumador de alta velocidad
- d. Circuito sumador de código BCD
2-10 Experimentos de restadores completos y semirestadores
- a. Con compuertas lógicas básicas
- b. Con sumador completo y circuito inversor
2-11 Experimento de circuito de unidad lógica aritmética (ALU)..
2-12 Experimentos de generador de bit de paridad
- a. Con compuerta XOR
- b. Con CI Generador de bit de paridad
2-13 Experimentos de circuitos codificadores
- a. Construyendo un codificador de 4 a 2 bits con compuertas lógicas básicas
- b. Construyendo un codificador de 10 a 4 bits con CI TTL
2-14 Experimentos de circuitos decodificadores
- a. Construyendo un decodificador de 4 a 2 bits con compuertas lógicas básica
- b. Construyendo un decodificador de 10 a 4 bits con CI TTL
2-15 Experimentos de circuitos multiplexores
- a. Construyendo un multiplexor de 2 a 1 con compuertas lógicas básicas
- b. Usando un multiplexor para crear funciones
- c. Construyendo un multiplexor de 8 a 1 bit con CI TTL
2-16 Experimentos de circuitos demultiplexores
- a. Construyendo un demultiplexor de 1 a 2 bits con compuertas lógicas básicas
- b. Construyendo un demultiplexor de 1 a 8 bits con CI CMOS
2-17 Circuitos Multiplexores / Demultiplexores analógicos controlados digitalmente
- a. Características de los interruptores analógicos..
- b. Transmisión bidireccional con CI de interruptores analógicos CMOS
3. Experimentos de circuito generador de señal de reloj
3-1 Construyendo un circuito oscilador con compuertas lógicas básicas
3-2 Construyendo un circuito oscilador con compuertas Schmitt
3-3 Circuito VCO (Oscilador controlado por voltaje)
3-4 Experimentos de circuito oscilador con CI 555
a. Circuito oscilador 555
b. Circuito oscilador controlado por voltaje
3-5 Experimentos de circuito multivibrador monoestable
- a. Circuito multivibrador monoestable de baja velocidad..
- b. Circuito multivibrador monoestable de alta velocidad...
- c. Construyendo multivibradores monoestables con disparador 555
- d. Construyendo circuitos no redisparables con CI TTL.
- e. Construyendo circuitos redisparables con CI TTL…
- f . Construyendo un oscilador con ciclo de trabajo variable con multivibrador monoestable
4. Experimentos de circuitos de lógica secuencial
4.1 Construyendo un Flip-Flop RS con compuertas lógicas básicas
4.2 Construyendo un Flip-Flop D con Flip-Flop RS
4.3 Construyendo un Flip-Flop T con Flip-Flop D
4.4 Construyendo un Flip-Flop JK con Flip-Flop RS
4.5 Construyendo un registro de desplazamiento con Flip -Flip D
4.6 Experimentos de circuitos de registros de desplazamiento hacia la derecha/izquierda con preajuste
4.7 Circuito eliminador de ruido con Flip-Flop RS
4-8 Construyendo contadores con Flip-Flops JK
- a. Circuito contador binario ascendente asíncrono
- b. Circuito contador decimal ascendente asíncrono
- c. Circuito contador divisor por N ascendente asíncrono
- d. Circuito contador binario descedente asíncrono
- e. Circuito contador binario ascendente síncrono
- f . Circuito contador binario ascendente/descendente síncrono
- g. Circuito contador binario ascendente/descendente síncrono con preajuste
- h. Circuito contador decimal ascendente/descendente síncrono con preajuste
- i. Circuito contador de anillo
- j. Circuito contador de Johnson
5. Experimentos de circuitos de memoria
5-1 Construyendo MEMORIAS DE SÓLO LECTURA (ROM) con diodos
5-2 Construyendo MEMORIAS DE ACCESO ALEATORIO (RAM) con flip-flip D
5-3 Circuito RAM de 64 bits
5-4 Circuito ROM programable y borrable (EPROM).
5-5 Circuito ROM programable y borrable eléctricamente (EEPROM)
5-6 Construyendo contador de rastreo dinámico con un microprocesador integrado
6. Experimentos de circuitos convertidores
6-1 Experimentos de circuitos de convertidores digital / análogico
a. Circuito convertidor de salida unipolar
b. Circuito convertidor de salida bipolar
6-2 Experimentos de circuitos convertidores analógico/digital
- a. Circuito convertidor de 8 bits
- b. Circuito convertidor de 3 ½ dígito
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